X-3600是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。需要多元素同時分析的地方， 正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強，分辨率高，適用于各行業(yè)對不同元素進行無損檢測。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。

技術參數(shù)：

外型尺寸：600mm×530mm×330mm

可測試樣品大小：關倉測量：220mm×200mm×150mm

開倉測量：無限大

儀器重量：50公斤

工作環(huán)境溫度：0——35℃

工作環(huán)境相對濕度：≤80%

元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）

含量分析范圍：1PPM——99.999%

測量時間:10——180秒可調(diào)

激發(fā)源：低功率X射線管

高壓電源：美國Spellman原裝進口高壓電源

探測器：美國Amptek原裝進口電制冷Si-Pin半導體探測器

儀器分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于149eV

多道分析器：2048道

軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件

客戶可進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法

工作電源：交流 220V 50Hz

主要特點：

基本參數(shù)法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。

包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。

樣品室高清成像定位系統(tǒng)，方便微小樣品定位測量。

電制冷與內(nèi)部雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結合，維持內(nèi)部工作環(huán)境穩(wěn)定。

內(nèi)部動力學風道設計，快速排出多余熱量。

雙峰位快速自動校準。

雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升級。

儀器工作方法任意開發(fā)。

定量分析：包括經(jīng)驗系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。

定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。

測試報表根據(jù)客戶要求獨立設計。